Zeta100電位納米粒度分子量分析儀的測(cè)量要求

更新時(shí)間：2025-09-05

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　　Zeta100電位納米粒度分子量分析儀是依據(jù)Stern理論所描述的溶液界面靜電雙電層現(xiàn)象所設(shè)計(jì)的電位測(cè)試儀。Zeta電位（z）是膠體穩(wěn)定性的關(guān)鍵指標(biāo)，Zeta電位絕對(duì)值越大（即越正或者越負(fù)），膠體越穩(wěn)定，因此對(duì)膠體zeta電位的測(cè)試是有必要的。

　　Zeta100電位納米粒度分子量分析儀是帶電顆粒周?chē)娜芤褐袑⒏患瘞喾捶?hào)的離子（即反離子），其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合，構(gòu)成固定吸附層，又稱(chēng)Stern層；另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴(kuò)散兩種相反作用的平衡，分布在顆粒周?chē)芤褐?，?gòu)成擴(kuò)散層。

　　位于Stern層的反離子由于強(qiáng)大靜電吸引聚集在顆粒表面而Stern層外的離子由于靜電吸引較弱，形成了擴(kuò)散層。兩層之間的邊界被定義為滑動(dòng)層或剪切層。顆粒做電泳運(yùn)動(dòng)時(shí)，會(huì)帶著固定吸附層和部分溶劑分子一起移動(dòng)，與液體之間形成滑動(dòng)面，定義滑動(dòng)面與液體內(nèi)部的電位差為zeta電位分析儀。

　　測(cè)量要求：

　　測(cè)量粒徑前，需查知樣品分散劑的粘度、折光指數(shù)、介電常數(shù)用卷紙輕輕點(diǎn)拭樣品池外側(cè)水滴，兩個(gè)塞子外側(cè)一定要去除樣品池內(nèi)的氣泡，電極上氣泡如發(fā)現(xiàn)電極變黑，需更換實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池為聚苯乙烯材質(zhì)。

　　不可用于測(cè)量有機(jī)分散體系實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池測(cè)量溫度不可高于70度使用濾紙過(guò)濾時(shí)，舍去過(guò)濾后的第一滴樣品，以防濾紙上雜質(zhì)進(jìn)入樣品池在Zeta電位分析儀測(cè)量時(shí)需自帶：卷紙、多個(gè)注射器（5ml）、多個(gè)離心管（用于稀釋樣品）使用。

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